雷達物位計注意事項：

1、測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當物位低于此點時無法進行測量。[7]

2、介質(zhì)為低介電常數(shù)當其處于低液位時，罐低可見，此時為保證測量精度，建議將零點定在低高度為C 的位置。

3、理論上測量達到天線*的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應(yīng)距離天線的*至少100mm。

4、對于過溢保護，可定義一段安全距離附加在盲區(qū)上。

5、zui小測量范圍與天線有關(guān)。

6、隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進行測量的。

本公司雷達物位計質(zhì)量保證，*，歡迎廣大新老客戶前來咨詢。

雷達物位計質(zhì)量保證

局限性

1、影響雷達性能的是介電常數(shù)，理論上在真空中雷達衰減極小，當空氣中存在對雷達衰減物質(zhì)，例如：高介電性的粉塵粉末(石墨，鐵合金等)，水蒸氣很大，測量距離效果要受影響。[6]

2、被測介質(zhì)的揮發(fā)氣體會在天線上聚集，水蒸汽會在天線上聚結(jié)，此時會影響雷達波的發(fā)射，嚴重時雷達波不能發(fā)出。

3、被測介質(zhì)的介電常數(shù)不能太小。

4、盡管溫度和壓力對雷達影響極小，但雷達天線是由材料做成的，雷達可適應(yīng)溫度的壓力的范圍與使用的材料和密封結(jié)構(gòu)有關(guān)。

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注意事項

1、測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當物位低于此點時無法進行測量。[7]

2、介質(zhì)為低介電常數(shù)當其處于低液位時，罐低可見，此時為保證測量精度，建議將零點定在低高度為C 的位置。

3、理論上測量達到天線*的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應(yīng)距離天線的*至少100mm。

4、對于過溢保護，可定義一段安全距離附加在盲區(qū)上。

5、zui小測量范圍與天線有關(guān)。

6、隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進行測量的。

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